ナノインデンター

■面内および面外MEMS剛性試験
MEMSチップ上の吊り構造の機械的剛性を正確に定量化するために、面内および面外の圧縮試験も行えます。 ナノインデンターを用いて、吊り下げられた各構造に垂直に力を加え、結果として生じる変形を記録してゆきます。 力と変形のデータから、MEMS構造の剛性、バネの直線性、ヒステリシス、再現性を定量化します。 面内試験中は微小ギャップ内で力を加える必要があります。この場合は、オプションである横方向の微小センシングプローブを使用します。接触チップは狭いギャップ内に配置されており、水平方向の力を加えることができる形状となっております。

■MEMS構造の疲労試験
稼働構造を有するMEMS構造体の寿命と故障を評価するため、インデンターを疲労試験機として使用できます。
この場合は、吊り構造に対して繰り返し荷重(力制御)を適応します。
結果として生じる、力対変形のデータを継続的に監視することで、亀裂の開始や伝播など材料の変化を検出できます。

■マイクロファイバーは、複合材料、フィルター、組織工学、創傷包帯、繊維製品など各業界において非常に有望視されている素材です。そのため、機械的挙動（剛性、弾性変形範囲、極限強度、靭性等）についての定量的な性能を把握することは重要です。

■シリカ繊維のマイクロスケール引張試験
ナノインデンターを使用することで、サンプル調製と引張試験の両方を実行できます。FemtoTools Software Suiteの「引張試験」機能を使用して、ファイバーはまっすぐになるまで引っ張られてから、さらに引き伸ばされます。剛性、伸び、最大降伏強度、最大伸びを測定可能。弛緩挙動は、繊維を伸ばし、位置を一定に保ちながら力を測定することにより分析されます。多数のロードおよびアンロードのサイクル後の剛性と繊維の伸びの変化を測定するために、周期的なテストを行います。

■FT-NMT04は、超高荷重および変位分解能とその場SEM観察を組み合わせることにより、特定のサブミクロンスケールの微細構造特性の機械的特性を測定し、パイルアップ、スリップバンド、および亀裂の形成を直接視覚化することができます。標準的なナノインデンテーションは、除荷の開始時に測定データを取得しますが、連続剛性測定（CSM）を使用すると、硬さと弾性率の両方を圧子の侵入深さの関数として記録できます。

■高い荷重と変位の分解能を有するFT-NMT04を使用したCSMナノインデンテーションにより、浅い侵入深さと可塑性の開始からバルク材料への機械的応答の進化を定量化できます。高調波周波数範囲（最大500Hz）と高速データ取得レートの組み合わせにより、材料の粘弾性および粘塑性挙動の前例のない定量的動的機械分析が可能になります。

■3Dマイクロパーツの組み立て
標準的な微細加工プロセスは平面加工に限定されており、複雑な3次元構造の作成はできません。また、異なる材料の、特定の組み合わせのみが可能であり、微細加工デバイスおよびシステムの機能は制限が加わります。真の3次元ハイブリッド微小電気機械システム（MEMS）の開発には、マイクロアセンブリが必要です。

■生物医学用途では、軟磁性の電気めっきニッケル構造を3次元形状に組み立てる必要があります。この組立作業には、FT-MTA02マイクロメカニカル試験および組立ステーションが最適です。ハンドリングプロセスの信頼性を向上させるために、グリップ力のクローズドループコントロールを使用します。組み立てられた部品はシリコンベースのマイクロセンサーと組み合わされます。