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『真の変位制御』を実現したナノインデンター
マイクロナノスケールでの幅広い用途で使える3軸インデンター
ダイナミック、加熱試験が可能な3軸SEM用ナノインデンター
試験の自由度が高い複数軸SEMインデンター※本製品の新規お取り扱いは終了いたしました。
MEMSデバイス(E-Chips)を用いたTEM用In-Situホルダーのパイオニア
バブルポイント、貫通細孔径分布測定の高性能装置 ※本製品のお取り扱いは終了しました。
オングストローム~ナノ細孔の評価が可能な特殊評価機。
FC材料の真の拡散性を評価
バブルポイント、貫通細孔径分布測定の業界標準機 ※本製品の新規お取り扱いは終了いたしました。
極低圧での細孔径分布測定が可能な最新機種 ※本製品の新規お取り扱いは終了いたしました。