半導体関連機器

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西華デジタルイメージで取扱いのサファイアウエハや高精度な分光技術を活かした結晶欠陥検出装置など、半導体製造の前工程に於ける各種検査機器についての新製品案内や、展示会出展情報、技術情報などをお届けします。

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当社製品・サービスに関するこんなお悩み・ご相談お待ちしております

■粒度分布、粉体計測

  • 粒度分布計をリプレイスしたいが高額で導入できない
  • オペレーションが容易な粒度分布計を導入したい
  • 安価にナノオーダーの粒度分布を計測したい

■流体計測、可視化

  • 流体の可視化、定量化に関するお悩み
  • PIVソフトを導入したけど上手く計測できない
  • 熱線流速計でうまく測れない流速を計測したい

■ひずみ、変位測定

  • ひずみゲージが貼れない箇所のひずみを計測したい
  • 非接触でひずみ・変位を解析したい
  • ひずみの分布を面で計測したい

■薄膜、多孔質素材評価

  • 水俣条約に伴い扱いが困難になる水銀式ポロシメトリーについて相談したい
  • 燃料電池のGDL、MEAのガスの拡散性能を評価したい
  • セラミックフィルターの細孔径分布を測定したい
 

などなど、どんなささいな事でもご相談承りますので、まずはお気軽にご相談下さい。
ラボルームもご用意しておりますので、デモや製品の見学も承ります。

03-3830-2300

（受付時間:平日 9:00-18:00）

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