【TEST2019 ［第15回総合試験機器展］】今週9/11より開幕いたします。
平素よりご愛顧いただき誠に有難うございます。
一般社団法人日本試験機工業会が主催する【TEST2019 ［第15回総合試験機器展］】の開幕が近づいてまいりました。
本展示会では、画像相関法による歪み、変位、振動解析が可能なDICシステムとレーザー回折式粒度分布計FLDシリーズ、
電顕を用いた微小領域の機械試験機(ナノインデンテーション)であるナノインデンターをご紹介いたします。
【デジタル画像相関法による歪み、変位、振動解析システム sDIC】
変形前後の画像を撮影することで、検査対象の表面に存在する特徴点の相関を演算することで歪みや変位などを解析するシステムです。
検査対象の表面にスペックルパターンと呼ばれるランダムパターンを塗装、塗布します。
ひずみゲージとは異なり、非接触で、また検査対象を面で解析できます。
また、検査対象は電子顕微鏡画像(SEM画像)から、橋脚などの大きな構造物まで、広いレンジに対応可能。
自社開発を行っているため、お客様のご要望に合わせた柔軟なシステム構築を得意としております。
DICについて、詳しくはこちらをご覧ください。
https://www.seika-di.com/measurement/dic.html
【レーザー回折式粒度分布計 FLDシリーズ】
粒度分布計の新製品であるFLDシリーズから、受発光部がセパレート式になっているFLD-319を展示実演致します。
平行光学系を採用することで、受発光部を分離させており、計測エリアはオープンになっております。
この計測エリアを、最大で10Mまで広げることが可能で、しかも計測エリアを変更した際にアライメントを取り直す必要をなくしました。
ブースではスプレーを用いた、計測の実演デモを実施いたします。
レーザー回折式粒度分布計 FLDシリーズについて、詳しくはこちらをご覧ください。
https://www.seika-di.com/measurement/combustion/particle.html
ブース番号はT-23番、ささやかなお土産をご用意しておりますので、お気軽にお立ち寄りくださいませ。
社員一同、皆様のお越しをお待ちしております。
まだまだ暑い日が続いておりますが、お体にお自愛くださいませ。
