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03-3830-2300
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高解像度、低ノイズの複数軸SEM / FIBナノインデンター
『真の変位制御』を実現したナノインデンター
マイクロナノスケールでの幅広い用途で使える3軸インデンター
ダイナミック、加熱試験が可能な3軸SEM用ナノインデンター
試験の自由度が高い複数軸SEMインデンター※本製品の新規お取り扱いは終了いたしました。
MEMSデバイス(E-Chips)を用いたTEM用In-Situホルダーのパイオニア