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材料特性評価機器
sDIC 2D 非接触歪み変位計測
- 自動車,建築・土木,マテリアル,繊維・製紙,医療・製薬,航空・宇宙,電力・ガス・エネルギー,鉄道,船舶,DIC
| メーカー名： | Seika Digital Image |
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| 材料特性評価機器 | 物体のひずみ、方向を、非接触で解析 |
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sDIC 2D 非接触歪み変位計測
DIC（デジタル画像相関法）による、ひずみ解析システムです。 サンプルの変形前後の画像を撮影し、解析する事により、どの程度変形したかを解析します。
変形量だけでなく、変形した方向も検出可能です。
本システムを使用する事により、非接触、非破壊で物体の歪みや変形を定量化する事が可能です。 カメラ、照明等の周辺機器も含め、総合的にご提案いたします。
システム構成例
製品特徴
- 座標、変位、速度、ひずみ、形状、変形を測定可能, ベクトル図、コンター図表示, 対応画像フォーマット：TIFF画像 他, 使いやすく、直感的なインターフェース, オフライン解析、オンライン解析（オプション）, プロセスツリー構造, 豊富なポスト処理機能（FFT解析、POD解析等）, 各種高速度カメラ、高解像度カメラに対応, 日本語、英語 対応, オフライン解析、オンライン解析（オプション）
アプリケーション例：横軸引張り試験 ※ページ下部に動画リンクがあります
アプリケーション例：ドア開閉時の車体の挙動 ※ページ下部に動画リンクがあります
アプリケーション例：風洞内の金属板の揺れ ※ページ下部に動画リンクがあります
製品仕様
- ※対応カメラについてはお問合せください。
各種カメラに対応しています。
- カメラ制御 ※
・カメラ制御
・カメラパラメータ調節
可能
可能
- 信号
・同期信号入力
・アナログ信号入力
可能(TTL5V)
可能
- 画像読み込み 対応フォーマット
- .tif、.bmp、.jpg、.png他
- 画像補正
・各種フィルター
・マスク / ROI
ガウシャン、ハイパス/ローパス他
可能
- 計測
・次元数
・計測分解能
・ひずみ範囲
2D
1/100ピクセル以下
～数百%以上
- 表示項目
- 形状、変位、ひずみ、速度
- 後処理
- 周波数(振動)解析、POD処理
- ※対応カメラについてはお問合せください。
各種カメラに対応しています。
- 対応カメラ ※
・カメラ
・画素数
・データレート
各種理化学用カメラ、マシンビジョン用カメラ、高速度カメラ
0.1Mピクセル～30Mピクセル
最大10,000,000Hz
- 照明
- 各種ハロゲンランプ、LEDライト、レーザー
- PC 対応OS
- Windows OS
- カメラ
・画素数
・ビット深度
・サンプリングレート
2,448×2,048 (5M) ピクセル
8/10/12
23Hz
- 照明
- LEDライト
