第33回微粒化シンポジウム　出展概要

第33回微粒化シンポジウム｜2024.12.17(火)～12.18(水)

会期 12月17日(火) ～12月18日(水)
テーマ 第33回微粒化シンポジウム
会場 広島国際会議場（アクセス情報）
〒730-0811 広島市中区中島町１－５　(平和記念公園内）
出展内容 蛍光マイクロシャドウ、デジタルシュリーレン（BOS法）
問い合わせ 西華デジタルイメージ株式会社
〒112-0004　東京都文京区後楽1-5-3 後楽国際ビルディング2階
TEL:03-3830-2300　FAX:03-5802-8777　info@seika-di.com
公式サイト 微粒化シンポジウム

製品ページ・関連ソリューション

粒子画像解析法:シャドウグラフシステム

デジタルシュリーレン（BOS法）

当社製品・サービスに関するこんなお悩み・ご相談お待ちしております

■粒度分布、粉体計測

  • 粒度分布計をリプレイスしたいが高額で導入できない
  • オペレーションが容易な粒度分布計を導入したい
  • 安価にナノオーダーの粒度分布を計測したい

■流体計測、可視化

  • 流体の可視化、定量化に関するお悩み
  • PIVソフトを導入したけど上手く計測できない
  • 熱線流速計でうまく測れない流速を計測したい

■ひずみ、変位測定

  • ひずみゲージが貼れない箇所のひずみを計測したい
  • 非接触でひずみ・変位を解析したい
  • ひずみの分布を面で計測したい

■薄膜、多孔質素材評価

  • 水俣条約に伴い扱いが困難になる水銀式ポロシメトリーについて相談したい
  • 燃料電池のGDL、MEAのガスの拡散性能を評価したい
  • セラミックフィルターの細孔径分布を測定したい
 

などなど、どんなささいな事でもご相談承りますので、まずはお気軽にご相談下さい。
ラボルームもご用意しておりますので、デモや製品の見学も承ります。

03-3830-2300

（受付時間:平日 9:00-18:00）

製品のお見積りに関して

受託計測に関するご相談

製品購入にあたり仕様や詳細のご相談

製品サポート
その他のお問い合わせはこちら